Qnity Electronics ha instalado un sistema de inspección de defectos en láminas sin patrón Surfscan SP7XP de KLA en su Centro de Fabricación y Tecnología de Nueva Inglaterra en Marlborough, Massachusetts, informó la empresa el jueves.
El sistema apoyará el desarrollo y la fabricación de materiales de litografía de Qnity, incluida la familia de fotorresinas Epic para la litografía con ArF y la familia de fotorresinas Eon para la litografía de luz ultravioleta extrema (EUV), así como los materiales de capas intermedias. El equipo amplía las capacidades de caracterización y control de procesos de Qnity, permitiendo identificar con mayor antelación las fuentes de variación durante el desarrollo y la integración de los materiales.
Este mejoramiento tiene como objetivo mejorar la cualificación del proceso, el monitoreo y la caracterización de defectos en la fabricación de semiconductor, según la compañía. La inversión se ajusta a la estrategia más amplia de Qnity para fortalecer la innovación de los semiconductores a través de su red global, ofreciendo soluciones tecnológicas para la fabricación de chips y los sistemas electrónicos.
Julia Woertink, vicepresidenta de Tecnología para Tecnologías de los semiconductores de Qnity, señaló que la actualización ayudará a los clientes a avanzar a nodos de semiconductores más avanzados con mayor confianza y rapidez. James Seale, gerente general de KLA, destacó que la instalación refleja el creciente enfoque de la industria en la caracterización y el control de procesos en toda la cadena de valor de los semiconductores.
Qnity Electronics cotiza con el símbolo Q en la Bolsa de Nueva York.
